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    X射線晶體定向儀試樣本身的誤差因素及措施

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    X射線晶體定向儀試樣本身的誤差因素及措施

    發布日期:2018-01-09 00:00 來源:http://www.northstl.com 點擊:

           X射線單晶定向儀試樣本身的誤差因素:

          ①試樣易磨性。有的試樣易磨性較差,對測定構成影響。

          ②試樣成分。有的試樣基本組成成分與標準試樣組成成分不一致,也會影響測定結果。

          ③基體效應?;w中其它元素對分析元素的影響,包括吸收和增強效應,吸收效應直接影響對分析元素的激發和分析元素的探測強度。增強效應使分析元素特征輻射增強。

          ④不均勻性效應。X射線強度與顆粒大小有關,大顆粒吸收大,小顆粒吸收小,這是試樣粒度的影響。

          ⑤譜線干擾。各譜線系中譜線產生重疊、干擾,還有來自不同衍射級次的衍射線之間干擾。

           X射線晶體定向儀避免誤差的措施:

           對于上述幾方面誤差,應具體情況具體分析予以克服。首先應將樣品磨細、壓實以減少試樣的不均勻性,其次是選擇無干擾的譜線、降低電壓至干擾元素激發電壓以下,選擇適當分光晶體、計數管、準直器或調整脈沖高度分析器、提高分辯本領,在分析晶體和探測器之間放置濾光片,濾去或減弱干擾譜線。第三是 嚴格按X射線晶體定向儀儀器設備管理辦法安裝、調試好儀器設備,避免儀器誤差。第四是嚴格按照操作規程認真操作,避免人為的操作誤差。


    X射線單晶定向


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